+7 (812) 309-27-37
+7 (495) 646-14-76
+7 (800) 555-68-89
liniya.jpg
Меню

В вашем браузере отключен java-script.

Включите его в настройках браузера,
или обратитесь к своему системному администратору.


 
Технологические операции

Внутрисхемный контроль

  • Внутрисхемные тестеры
    Сводная таблица
    Тестовая система с подвижными пробниками модель PILOT V8

    Тестовая система с подвижными пробниками модель PILOT V8 предназначена  для проведения внутрисхемного и функционального контроля, внутрисхемного программирования, периферийного сканирования.
    Высокая точность позиционирования и скорость перемещения тестовых пробников позволяет использовать установку - как в условиях опытного многономенклатурного производства, так и при крупносерийном производстве.

    Вертикальная архитектура расположения механизмов и тестируемого изделия является оптимальным решением для одновременного тестирования изделий с двух сторон, позволяющая увеличить скорость и производительность теста, а также точность позиционирования пробников. Это решение является важной технологической инновацией в двустороннем тестировании  подвижными пробниками, в отличие от горизонтальных систем, имеющих конструктивные ограничения. Pilot4D V8 оснащен 8 электрическими подвижными пробниками (по 4 с каждой стороны), 2 подвижными пробниками Openfix (по 1 с каждой стороны), 2 подвижными пробниками питания (по 1 с каждой стороны), 2 пирометрами (по 1 с каждой стороны) и 2 CCD-камерами (по 1 с каждой стороны), в общей сложности 16 мобильными ресурсами, доступными при тестировании изделия. Подвижные силовые пробники являются еще одним важным новшеством, которое позволяет запитывать изделие без каких-либо дополнительных фиксированных кабелей, и обеспечивает реализацию функциональных тестов.

    Опции и методы тестирования системы Pilot4D V8:
    FNODE - аналоговый сигнатурный анализ цепей ПП (метод узловых импедансов).
    Стандартное аналоговое и цифровое внутрисхемное тестирование.
    Безвекторное тестирование (JSCAN, AUTIC и OPENFIX) для локализации неприпаяных и закороченных выводов микросхем.
    PWMON позволяет выполнить анализ поведения цепи на платах с поданным питанием для определения ошибок в цифровых узлах, которые обычно не проявляются во время пассивного тестирования (с выключенным питанием).
    Проверка целостности проводников и изоляции между ними.
    Оптическая инспекция (проверка наличия компонентов и их ориентации).
    OBP - внутрисхемное программирование микросхем, установленных на ПП.
    THS - технология сканирования рабочей температуры компонентов изделия.
    FLYSCAN - периферийное сканирование с  использованием подвижных пробников.
    REVERSE ENGINEERING - восстановление принципиальной схемы на образец без исходных данных.
    Все перечисленные опции  и методы могут быть объединены в одной тестовой программе. Важные нововведения, такие как проверка цепей методами FNODE и PWMON, обеспечивают высокий уровень охвата неисправностей и позволяют значительно сэкономить время  тестирования и программирования. Кроме того, только на тестовых системах Pilot4D V8 реализована технология параллельного тестирования двух односторонних изделий одновременно.