Новостная рассылка
компании ЛионТех

Наша рассылка содержит:

- Новинки оборудования
- Акции компании
- Оповещения о семинарах
- Новости компании
- Интересные статьи




+7 (812) 309-27-37
+7 (495) 646-14-76
+7 (800) 555-68-89
Oborudovanie dlya proizvodstva ehlektroniki.jpg
Меню

В вашем браузере отключен java-script.

Включите его в настройках браузера,
или обратитесь к своему системному администратору.


KIR6412 – инфракрасный инспекционный микроскоп

KIR6412 – инфракрасный инспекционный микроскоп

Скачать PDF

Инфракрасный инспекционный микроскоп KIR-6412 предназначен для проведения неразрушающего контроля полупроводниковых приборов, в частности для выполнения анализа отказов после операции монтажа флип-чипов.

  • Неразрушающий контроль WLCSP-компонентов;
  • Неразрушающий контроль качества монтажа флип-чипов;



  • Контроль интерметаллических соединений AuAl после операции разварки кристаллов и бампинга (Stud bumping);
  • Исследование трехмерных структур MEMS;
  • Контроль качества полировки структур «кремний на изоляторе» (SOI);
  • Возможность работы с пластинами диаметром до 300 мм (12”);
  • Контроль целостности структур благодаря системе обработки ИК-изображений;
  • Контроль качества межсоединений, недоступных для визуального контроля.

KIR-2.JPG


Техническая спецификация:

Параметры

KIR-6412

Увеличение

50Х – 500Х (максимум 1000Х)

Окуляры

PL10X/25mm широкоугольные с вынесенной точкой фокусировки

Головка микроскопа

тринокулярная, 0-35°

Расстояние между окулярами

50 – 76 мм

Объективы

NIR 5X, 10X, 20X, 50X, 100X (Nikon, Mutitoyo, Edmond)

Револьверная головка

BD Sextuple

Корпус

рефлектор, коаксиальная грубая и точная настройка, ход грубой настройки 33 мм, точность настройки 0,001 мм, встроенный трансформатор 100-240 В

Подсветка

отраженный источник света с ирисовой и апертурной диафрагмами, слоты для фильтра и поляризатора, галогенная лампа 12В / 100Вт

Рабочий столик

300 х 350 мм, с зажимом

Перемещение

356 х 305 мм

Адаптер для камеры

0.5X/0.56X/1X, С-крепление, настраиваемый фокус

Двойное С-крепление для камер

для переключения между режимами обычного микроскопа и ИК-микроскопа