Новостная рассылка
компании ЛионТех

Наша рассылка содержит:

- Новинки оборудования
- Акции компании
- Оповещения о семинарах
- Новости компании
- Интересные статьи




+7 (812) 309-27-37
+7 (495) 646-14-76
+7 (800) 555-68-89
micro.jpg
Меню

В вашем браузере отключен java-script.

Включите его в настройках браузера,
или обратитесь к своему системному администратору.


KMM-5400 – металлографический микроскоп

KMM-5400 – металлографический микроскоп

Металлографический микроскоп KMM-5400 широко используется в микроэлектронной промышленности для исследования полупроводниковых пластин, кристаллов интегральных схем, LCD-модулей и других задач, в которых требуется выполнение оптического контроля.

Благодаря высококачественной оптике и модульной конструкции, KMM-5400 является превосходным инструментом оптической микроскопии в проходящем и отраженном свете.

kmm1.jpgМикроскоп KMM-5400 оснащается светло- и темнопольными полуапохроматическими объективами, изготовленных с использованием современных оптических материалов и компонентов, компенсирующих все виды хроматической аберрации. Числовые апертуры объективов обеспечивают высокие разрешение и контраст изображения во всем поле зрения.




Техническая спецификация KM-5400

Параметры

KM-5400

Метод наблюдения

Темное поле, светлое поле, поляризация, дифференциальный интерференционно-контрастный (DIC), флуоресцентный

Оптическая система

Скорректированная на бесконечность цветная оптическая система

Оптическая головка

30° наклонная триногулярная головка (прямое изображение), сверхширокоугольное поле зрения, соотношение бинокуляр:тринокуляр = 100:0 или 0:100, межцентровое расстояние окуляров 50-76 мм


30° наклонная триногулярная головка (прямое изображение), сверхширокоугольное поле зрения, соотношение бинокуляр:тринокуляр = 100:0, 20:80 или 0:100, межцентровое расстояние окуляров 50-76 мм

Окуляры

PL10X/26.5T однофокусный, с вынесенной точкой фокусировки, с регулировкой оптической силы

PL10X/25T однофокусный, с вынесенной точкой фокусировки, с регулировкой оптической силы

PL10X/23T однофокусный, с вынесенной точкой фокусировки, с регулировкой оптической силы

Объективы

MplanFL-BD светло- и темнопольные полуапохроматические, 5Х, 10Х, 20Х, 50Х, 100Х

Револьверная головка

Наклонная шестипозиционная для темного и светлого поля, с DIC слотом

Рабочий столик

Механический рабочий столик со стеклянной пластиной, диапазон перемещения 105 мм (X) и 102 мм (Y), поле проходящего света 96х96 мм, фиксация перемещения по оси Y, конструкция для левшей или правшей

Корпус

Коаксиальная грубая и точная подстройка, диапазон грубой подстройки 33 мм, шаг точной подстройки 0,001 мм. Встроенный трансформатор на 100-240 В, двойной выход электропитания, цифровой контроль регулятора силы света, переключение между проходящим и отраженным светом

Отраженный свет

RX50MRL многофункциональная подстветка: 100 Вт ртутная лампа, 75 Вт ксеноновая лампа, 100 Вт галогенная лампа (опция). Ирисовая диафрагма, слоты для фильтров и поляризаторов.

RX50MRL2 светло- и темнопольная подсветка, 100 Вт галогенная лампа, переключение между отраженным и проходящим светом. Ирисовая диафрагма, слоты для фильтров и поляризаторов.

Проходящий свет

100 Вт галогенная лампа, ирисовая диафрагма. Встроенные фильтры для проходящего света (LBD, ND6, ND25), поворотно-откидной конденсор (числовая апертура 0,9)


Характеристики объективов

Увеличение

Числовая апертура

Фокусное расстояние

Толщина покровного стекла

Парфокальное расстояние

Сопряженное фокусное расстояние

0,15

19,5

0

45 мм

10Х

0,30

10,9

20Х

0,45

3,2

50Х

0,8

1,3

100Х

0,9

1

kmm2.jpg

kmm3.jpg




Габариты микроскопа KMM-5400, мм





kmm4.jpgГабариты микроскопа KMM-5400B/D для изучения объектов методом темного/светлого поля в отраженном свете, мм