Новостная рассылка
компании ЛионТех

Наша рассылка содержит:

- Новинки оборудования
- Акции компании
- Оповещения о семинарах
- Новости компании
- Интересные статьи




+7 (812) 309-27-37
+7 (495) 646-14-76
+7 (800) 555-68-89
micro.jpg
Меню

В вашем браузере отключен java-script.

Включите его в настройках браузера,
или обратитесь к своему системному администратору.


HAWK-8220WS – прецизионная установка измерения прочности механических соединений бампов на пластине

HAWK-8220WS – прецизионная установка измерения прочности механических соединений бампов на пластине

Скачать PDF

Установка HAWK-8220WS представляет собой тестер, предназначенный для выполнения тестов на сдвиг или на отрыв бампов на полупроводниковых пластинах диаметром 8”-12”. Установка позволяет выполнять измерения в полностью автоматическом режиме – для этого предусмотрена возможность импорта электронной карты пластины. Кроме того, установка совместима с автоматизированным оборудованием для перемещения и подачи пластин KOVIS WH.

Выполняемые тесты: тест бампов на сдвиг (Bump shear), тест бампов на отрыв (Cold Bump Pull test). Система управляется двумя эргономическими манипуляторами (джойстиками).

  • Разработана специально для выполнения тестов на пластине;
  • Прецизионный контроль перемещения инструмента по осям XYZ позволяет выполнять тест на прочность соединений микробампов;
  • Возможность автоматической загрузки-выгрузки пластин при работе в комбинации с оборудованием для перемещения и подачи пластин KOVIS;
  • Возможность автоматизированного тестирования на основе электронной карты пластины;
  • Работа с пластинами диаметром 8”-12”;
  • Точность измерения в пределах ±0,15%;
  • Интуитивно понятный интерфейс, быстрое обучение;
  • Быстрое перемещение инструмента к заданной позиции на пластине по клику мыши на соответствующую точку на изображении пластины;
  • Точность позиционирования инструмента по высоте при выполнении теста на сдвиг ±1 мкм;
  • Опции: захват картинки, измерение высоты бампа, автоматическое выполнение теста и др.;
  • Простая и интуитивно понятная система настроек выполнения теста (скорости, высот, перемещений, классификации результатов теста и пр.);
  • Возможность выполнения тестов соответствии с принятыми в полупроводниковой промышленности международными стандартами (JEDEC, MIL, EIA).