Новостная рассылка
компании ЛионТех

Наша рассылка содержит:

- Новинки оборудования
- Акции компании
- Оповещения о семинарах
- Новости компании
- Интересные статьи




+7 (812) 309-27-37
+7 (495) 646-14-76
+7 (800) 555-68-89
micro.jpg
Меню

В вашем браузере отключен java-script.

Включите его в настройках браузера,
или обратитесь к своему системному администратору.


Тестовая система для внутрисхемного контроля пайки

Тестовая система с подвижными пробниками модель PILOT V8

Тестовая система с подвижными пробниками модель PILOT V8 предназначена для проведения внутрисхемного и функционального контроля, внутрисхемного программирования, периферийного сканирования. Высокая точность позиционирования и скорость перемещения тестовых пробников позволяет использовать установку - как в условиях опытного многономенклатурного производства, так и при крупносерийном производстве. Вертикальная архитектура расположения механизмов и тестируемого изделия является оптимальным решением для одновременного тестирования изделий с двух сторон, позволяющая увеличить скорость и производительность теста, а также точность позиционирования пробников. Это решение является важной технологической инновацией в двустороннем тестировании подвижными пробниками, в отличие от горизонтальных систем, имеющих конструктивные ограничения. Pilot4D V8 оснащен 8 электрическими подвижными пробниками (по 4 с каждой стороны), 2 подвижными пробниками Openfix (по 1 с каждой стороны), 2 подвижными пробниками питания (по 1 с каждой стороны), 2 пирометрами (по 1 с каждой стороны) и 2 CCD-камерами (по 1 с каждой стороны), в общей сложности 16 мобильными ресурсами, доступными при тестировании изделия. Подвижные силовые пробники являются еще одним важным новшеством, которое позволяет запитывать изделие без каких-либо дополнительных фиксированных кабелей, и обеспечивает реализацию функциональных тестов. 


PILOT4d

PILOT4d

Опции и методы тестирования системы Pilot4D V8: 
  • FNODE - аналоговый сигнатурный анализ цепей ПП (метод узловых импедансов). 
  • Стандартное аналоговое и цифровое внутрисхемное тестирование. 
  • Безвекторное тестирование (JSCAN, AUTIC и OPENFIX) для локализации неприпаяных и закороченных выводов микросхем.
  • PWMON позволяет выполнить анализ поведения цепи на платах с поданным питанием для определения ошибок в цифровых узлах, которые обычно не проявляются во время пассивного тестирования (с выключенным питанием). 
  • Проверка целостности проводников и изоляции между ними. 
  • Оптическая инспекция (проверка наличия компонентов и их ориентации). 
  • OBP - внутрисхемное программирование микросхем, установленных на ПП. 
  • THS - технология сканирования рабочей температуры компонентов изделия. 
  • FLYSCAN - периферийное сканирование с использованием подвижных пробников. 
  • REVERSE ENGINEERING - восстановление принципиальной схемы на образец без исходных данных. 
Все перечисленные опции и методы могут быть объединены в одной тестовой программе. Важные нововведения, такие как проверка цепей методами FNODE и PWMON, обеспечивают высокий уровень охвата неисправностей и позволяют значительно сэкономить время тестирования и программирования. Кроме того, только на тестовых системах Pilot4D V8 реализована технология параллельного тестирования двух односторонних изделий одновременно.