Новостная рассылка
компании ЛионТех

Наша рассылка содержит:

- Новинки оборудования
- Акции компании
- Оповещения о семинарах
- Новости компании
- Интересные статьи




+7 (812) 309-27-37
+7 (495) 646-14-76
+7 (800) 555-68-89
micro.jpg
Меню

В вашем браузере отключен java-script.

Включите его в настройках браузера,
или обратитесь к своему системному администратору.


HAWK-8000M – многофункциональная система измерений механической прочности соединений

HAWK-8000M – многофункциональная система измерений механической прочности соединений

Скачать PDF

Установка HAWK-8000M предназначена для выполнения различных тестов по измерению механической прочности соединений на производстве изделий микроэлектроники: сдвиг кристаллов или шариков сварных соединений, отрыв сварных соединений, сдвиг или на отрыв бампов и пр. Многофункциональность установки обеспечивается за счет того, что она оснащена поворотным механизмом, на который можно установить до 4 картриджей, предназначенных для выполнения разных тестов.

Выполняемые тесты: сдвиг кристаллов (Die shear), сдвиг шариков (Ball shear), отрыв сварных соединений (Wire pull) и другие. Система управляется двумя эргономическими манипуляторами (джойстиками).

Особенности модели:

  • На систему может быть одновременно установлено до 4 картриджей с инструментами, предназначенных для выполнения разных измерений;
  • Автоматическая смена картриджа для измерений в течение 3 секунд;
  • Максимальная прилагаемая нагрузка до 100 кгс;
  • Точность измерения < ±0,15%;
  • Удобный и интуитивно понятный графический интерфейс;
  • Два джойстика. На левом джойстике расположена кнопка, регулирующая скорость перемещения по осям. На правом – кнопка старта выполнения теста;
  • Интерфейс TCP/IP, SEC/GEM;
  • Возможность выполнения тестов соответствии с принятыми в полупроводниковой промышленности международными стандартами (JEDEC, MIL, EIA).

Техническая спецификация:

Параметры

HAWK-8000M

Количество одновременно устанавливаемых картриджей

4 шт

Габариты установки

350х800х600 мм

Вес

80 кг

Увеличение микроскопа

х45 / х95

Диапазон перемещения инструмента по осям XY / точность / воспроизводимость / разрешение / максимальная скорость

50х50 мм / ±10 мкм / ±5 мкм / менее 1 мкм / 2 мм/с

Ход инструмента по оси Z / точность

65 мм / ±10 мкм

Статистическая обработка данных

ранжирование дефектов, Макс/Сред/Мин  значения, стд. отклонение, Cpk, Cp, Отказы, %Отказов, X-R контрольные карты, гистограммы, круговые диаграммы

Максимальная скорость тестирования

5000 мкм/с

Точность по Z в диапазоне 2 мм

±2 мкм

Полная точность обратного хода

±1 мкм на 25 мкм перемещения по оси Z

Разрешение по оси Z

0,125 мкм

Общая точность и повторяемость системы

±0,15%

Питание

220/240 В, 50/60 Гц

Сжатый воздух

5 бар, 6 мм

Вакуум

мин. 0,6 бар, 6 мм