Новостная рассылка
компании ЛионТех

Наша рассылка содержит:

- Новинки оборудования
- Акции компании
- Оповещения о семинарах
- Новости компании
- Интересные статьи




+7 (812) 309-27-37
+7 (495) 646-14-76
+7 (800) 555-68-89
micro.jpg
Меню

В вашем браузере отключен java-script.

Включите его в настройках браузера,
или обратитесь к своему системному администратору.


HAWK-8200S – универсальная система измерений механической прочности соединений

HAWK-8200S – универсальная система измерений механической прочности соединений

Скачать PDF

Установка HAWK-8200S представляет собой тестер, предназначенный для выполнения различных тестов по измерению механической прочности соединений на производстве изделий микроэлектроники: сдвиг кристаллов или шариков сварных соединений, отрыв сварных соединений, сдвиг или на отрыв бампов и пр. Установка универсальна – она оснащается сменными картриджами, предназначенными для выполнения разных тестов.

Выполняемые тесты: сдвиг кристаллов (Die shear), сдвиг шариков (Ball shear), отрыв сварных соединений (Wire pull) и другие. Система управляется двумя эргономическими манипуляторами (джойстиками).

kovis-8200S-2.JPG


Особенности модели:
  • Компактный, эргономичный и современный дизайн;
  • Держатели изделий: 50х50 мм (базовый), 100х100, 200х200, 300х300 опционально;
  • Электромагнитное крепление измерительного картриджа обеспечивает выполнение тестов с высокой точностью даже при приложении большой нагрузки;
  • Сменные картриджи, предназначенные для разных видов тестов;
  • Максимальное усилие на сдвиг 100 кгс (стандарт) или 500 кгс (опционально);
  • Точность измерения < ±0,15%;
  • Удобный и интуитивно понятный графический интерфейс;
  • Два джойстика. На левом джойстике расположена кнопка, регулирующая скорость перемещения по осям. На правом – кнопка старта выполнения теста;
  • Интерфейс TCP/IP, SEC/GEM;
  • Возможность выполнения тестов соответствии с принятыми в полупроводниковой промышленности международными стандартами (JEDEC, MIL, EIA). Возможность выполнения тестов соответствии с принятыми в полупроводниковой промышленности международными стандартами (JEDEC, MIL, EIA).

Техническая спецификация:

Параметры

HAWK-8200S

Виды картриджей

от 100 г до 200 кг (до 500 кг опционально)

Габариты установки (без компьютера)

350х675х435 мм

Вес

80 кг

Увеличение микроскопа

х45 / х90

Базовая конфигурация

база, 17”-монитор, микроскоп, джойстики, клавиатура, мышь, программное обеспечение, набор весовых гирек, набор для калибровки, инструменты на отрыв (сдвиг), держатель изделий

Диапазон перемещения инструмента по осям XY / точность / воспроизводимость / разрешение / максимальная скорость

50х50 мм / ±10 мкм / ±5 мкм / менее 1 мкм / 2 мм/с

Ход инструмента по оси Z / точность

65 мм / ±10 мкм

Статистическая обработка данных

ранжирование дефектов, Макс/Сред/Мин  значения, стд. отклонение, Cpk, Cp, Отказы, %Отказов, X-R контрольные карты, гистограммы, круговые диаграммы

Максимальная скорость тестирования

5000 мкм/с

Точность по Z в диапазоне 2 мм

±2 мкм

Полная точность обратного хода

±1 мкм на 25 мкм перемещения по оси Z

Разрешение по оси Z

0,125 мкм

Общая точность и повторяемость системы

±0,15%

Питание

220/240 В, 50/60 Гц

Сжатый воздух

5 бар, 6 мм / 4 мм (внешний/внутренний)

Вакуум

мин. 0,6 бар, 6 мм