DCM 40/60 - микроскоп с двойным обзором для контроля лицевой и обратной стороны полупроводниковой пластины

Микроскопы DCM-40/60 предназначены для сравнения рисунков топологии на лицевой и обратной стороне полупроводниковой пластины. Сравнение выполняется путем наложения изображений обоих сторон пластины в одном поле зрения (как правило, с выводом на экран монитора). Таким образом могут быть легко обнаружены любые несоответствия между рисунками топологии и измерено рассовмещение слоев друг относительно друга.

В микроскопах используются объективы с увеличением 5х, 10х, 20х и 40х. 

Максимальный диаметр пластин - 100 мм (DCM-40) или 150 мм (DCM-60).

Особенности:

• Легкая настройка совмещения осей верхнего и нижнего объективов
• Возможность использования разных предметных столов
• Разъем C-Mount для подключения камеры
• Возможность просмотра только лицевой или только обратной стороны пластины